本產(chǎn)品為光學(xué)儀器(含X射線(xiàn))的檢測配置高低溫原位樣品環(huán)境的專(zhuān)用測試臺，利用X射線(xiàn)衍射原理，精確測定不同溫度下物質(zhì)的晶體結構，織構及應力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。其中，溫度是一種重要的物理學(xué)參量，可對大部分物質(zhì)的結構和性質(zhì)產(chǎn)生調制作用，因此常被工業(yè)界用于調控結構和優(yōu)化性能。
本產(chǎn)品為光學(xué)儀器(含X射線(xiàn))的檢測配置高低溫原位樣品環(huán)境的專(zhuān)用測試臺，利用X射線(xiàn)衍射原理，精確測定不同溫度下物質(zhì)的晶體結構，織構及應力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。其中，溫度是一種重要的物理學(xué)參量，可對大部分物質(zhì)的結構和性質(zhì)產(chǎn)生調制作用，因此常被工業(yè)界用于調控結構和優(yōu)化性能。
最高溫度 | 200 ℃ |
最低溫度 | RT |
最大升溫速率 | 30 ℃/min |
溫度穩定性 | ＜0.5 ℃ |
溫度分辨率 | 0.1℃ |
溫度傳感器 | PT100鉑電阻 |
控溫方式 | PID動(dòng)態(tài)調節 |
*可根據您的需求自由定制 | |
利用X射線(xiàn)衍射原理，精確測定不同溫度下物質(zhì)的晶體結構，織構及應力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。
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